Системы SOL для тестирования сенсоров VIS/SWIR тепловизоров и модулей камер
Особенности:
система SOL разработана для проведения работ по тестированию сенсоров тепловизоров, работающих в спектральном диапазоне VIS (видимого) и SWIR (коротковолнового инфракрасного) включающих в себя кремний / черный кремний / InGaAs чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2500 нм).
Общая информация
Система SOL разработана для проведения работ по тестированию сенсоров тепловизоров, работающих в спектральном диапазоне VIS (видимого) и SWIR (коротковолнового инфракрасного) включающих в себя кремний / черный кремний / InGaAs чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2500 нм). Конструктивно система SOL состоит из: 1) откалиброванного источника света имеющим ступенчатую регулировку спектральной полосы и непрерывным регулированием интенсивности света, который облучает сенсор тестируемого тепловизора; 2) системы по обработке изображений, позволяющее проводить анализ сгенерируемого тестируемым сенсором тепловизора (матрицой камеры) с последующей обработкой. Шаг фильтрации спектра выполняется с использованием набора узкополосных фильтров. Источник света может генерировать световой поток с до 16-ю спектральных полос, которые расположены в диапазоне VIS-SWIR спектра (от 400 до 2500 нм или опционально в более узкой полосе). Использование системы SOL позволяет измерять ряд радиометрических, фотометрических и спектральных параметров. К радиометрическим параметрам, измеряемым системой, относятся: эквивалентный излучению шум, функции ответа (чувствительность, линейность, динамический диапазон), D* (нормализованная детектируемость), квантовая эффективность, пространственный шум. К фотометрическим параметрам, измеряемым системой, относяться: эквивалентный освещенности шум, функции ответа. Радиометрические параметры могут быть измерены в любой из узких полос света, излучаемых источником света системы тестирования SOL. Именно поэтому система тестирования SOL может быть использована также для измерения спектральной чувствительности тестируемого сенсора тепловизора и матрицы тепловизорной камеры. Считается, что при тестировании матриц тепловизорных камер, они должны быть использованы вместе с управляющей электроникой (поставляется либо заказчиком, либо третьими лицами), на выходе которых генерируется изображения в стандартных цифровых форматах, таких как CameraLink, GigE, HD SDI и т. д. Поэтому система тестирования SOL позволяет проводить непосредственное тестирование чувствительности матрицы тепловизорных камер в спектральных диапазонах VIS и SWIR.
Описание работы
Конструктивно система тестирования SOL состоит из двух основных блоков:
- калиброванного источника света, со ступенчатой регулировкой длины волны и непрерывно регулируемой интенсивностью света, обозначаемый SOLO;
- системы по обработке изображений, которая состоит из: персонального компьютера, карты захвата изображений, специализированного программного обеспечения, называемой PCFS.
Тестируемый сенсор тепловизора располагается на выходе источника света SOLO, называемый световой пластиной. Тестируемый датчик равномерно облучается светом с требуемой длиной волны и интенсивностью света. освещенностью. На выходе тестируемого тепловизора или матрицы формируется изображения в одном из цифровых стандартов, которые поступают на карту захвата изображения и отображаюся на ПК входящих в систему PCFS. В дальнейшем эти изображения могут быть проанализированы пользователем с использованием специализированного программного обеспечения, также входящего в систему PCFS с измерением требуемых параметров тепловизоров и модулей тепловизорных камер VIS-SWIR диапазона.
Технические параметры
|
Параметры |
Значение |
|
Источник света SOLO |
|
|
Используемый источник света |
калиброванный источник света с пошаговой регулировкой частоты спектра и непрерывной регулировкой интенсивностью света |
|
Тип источника |
источник света с изменяемой длиной волны и интенсивностью света |
|
Апертура световой пластины |
не более 24 мм |
|
Неравномерность (пространственная неопределенность) |
2% (в центральной части диаметром 20 мм) |
|
Режимы работы |
1 - широкополосный режим; 2 - монохроматический режим. |
|
Калибровка интенсивности света |
освещенность сенсора (лк) или облучение сенсора (мкВт/см2) |
|
Тип регулирования интенсивности света |
непрерывное с использованием ПО установленного на ПК |
|
Стабильность интенсивности света |
не хуже 1,5% |
|
Работа источника света в широкополосном режиме |
|
|
Спектральная частота с регулируемой длиной волны |
от 400 нм до 2500 нм |
|
Спектр света |
приблизительно излучение с температурой света 2850К |
|
Максимальная освещенность |
не менее 10000 лк |
|
Динамический диапазон регулирования интенсивности света |
не менее 100000 раз (опционально может быть расширено) |
|
Работа источника света в монохроматическом режиме |
|
|
Спектральная частота с регулируемой длиной волны |
от 400 нм до 2500 нм |
|
Количество спектральных частот света |
до 16 (на всем диапазоне спектра от 400 до 2500 нм) |
|
Центральная длина волны на узкой частоте |
в диапазоне от 400 до 2500 нм и зависит от требований заказчика |
|
Ширина монохроматический спектральной частоты |
обычно от 10 до 20 нм и зависит от требований заказчика |
|
Максимальный уровень освещенности в плоскости датчика (при длине волны в диапазоне от 450 до 2000 нм) |
зависит от длины волны и требуемой ширины используемых фильтров. Например, не менее 70 мкВт/см2 для ширины фильтра 10 нм и длины волны 1000 нм |
|
Регулировка используемой длины волны (в узкой спектральной частоте) |
По шаговое регулирование с использованием ПО установленного на ПК |
|
Система PCFS |
|
|
Допустимые форматы цифровых изображений тестируемого датчика |
CameraLink, GigE, HDSDI, HDMI (опционально может быть расширен) |
|
Измеряемые параметры |
Работа в широкополосном режиме: эквивалентный освещенности шум, функции ответа (чувствительность, линейность, динамический диапазон); Работа в монохроматическом режиме: эквивалентный излучению шум, функции ответа (чувствительность, линейность, динамический диапазон), D* (нормализованная детектируемость), квантовая эффективность, пространственный шум, относительная спектральная чувствительность |
|
Общие параметры |
|
|
Рабочий диапазон температур |
+ 5°С до + 35°С |
|
Температура хранения |
- 5°С до + 55°С |
|
Влажность |
не более 90% (без конденсирования влаги) |
|
Масса |
29,2 кг |
|
Габаритные размеры |
1190 х 400 х 240 мм |
Преимущества системы
Система тестирования SOL является идеальным инструментом для проведения работ по тестированию сенсоров тепловизоров и матриц тепловизорных камер, работающих в диапазонах VIS (видимых) и SWIR (коротковолновых инфракрасных) и основанных на элементах из кремния / черного кремния / сенсоров InGaAs и чувствительных в спектральной полосе от 400 до 2500 нм. Предлагаемая система тестирования относится к системам профессионального класс. Имеем компактную конструкцию, удобную и понятную в управлении для её пользователя-оператора. Система оптимизирована для проведения высокоскоростного тестирования с использованием специализированного программного обеспечения, в отличие от обычных систем тестирования, выполненных в виде отдельно стоящего набора оборудования с использованием при тестировании специальных оптических таблиц, которые снижают скорость тестирования и удобство от её использования.
