Системы SIT для тестирования сенсоров VIS/SWIR тепловизоров и модулей камер
Особенности:
использование системы SIT позволяет измерять радиометрические и спектральные параметры тепловизоров диапазона VIS-SWIR (сенсоры которых изготовлены из: кремния, черного кремния, InGaAs) и чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2200 нм.
Общая информация
Система тестирования SIT разработана для тестирования чувствительных сенсоров тепловизоров (или матриц тепловизорных камер), работающие в спектральном диапазоне VIS-SWIR (видимом и коротковолновом инфранрасном). Использование системы SIT позволяет измерять радиометрические и спектральные параметры тепловизоров диапазона VIS-SWIR (сенсоры которых изготовлены из: кремния, черного кремния, InGaAs) и чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2200 нм. Используя систему SIT можно измерить следующие параметры тепловизоров: относительную спектральную чувствительность, чувствительность, эквивалентный излучению шум, параметр "D*" (нормализованную детектируемость) и пространственный шум. Система тестирования SIT является более простой версией системы VIT с меньшим количеством измеряемых параметров. Достоинством системы SIT является возможность непрерывного регулирования длины волны. Для тестирования датчика теплового изображения - матрицы тепловизорной камеры необходимо, чтобы он был интегрирован с блоком электроники, поставляемый заказчиком или иным лицом, и которая позволяет генерировать выходное изображение в цифровом формате, таком как Camera Link, GigE, HD SDI и т.д. Поэтому считается, что система SIT позволяет тестировать не только тепловизоры в сборе, но а также модули тепловизорной камеры, чувствительные к спектральным диапазонам VIS-SWIR.
Описание работы
Конструктивно система тестирования SIT состоит из двух основных блоков:
- калиброванного источника света, непрерывно регулируемой длиной волны и интенсивностью света, обозначаемоая SITO;
- системы по обработке изображений, состоящей из: ПК, карты захвата изображений и специализированного программного обеспечения, называемой системой IPS.
Тестируемое устройстово изображения (тепловизор или модуль) располагается на выходе источника света SITO, называемой также световой пластиной. Тестируемый датчик равномерно облучается светом с требуемой длиной волны и освещенностью. на выходе тестируемого тепловизора или матрицы формируется изображения в одном из цифровых стандартов, которые поступают на карту захвата изображения и отображаюся на ПК входящих в систему IPS. В дальнейшем эти изображения могут быть проанализированы пользователем с использованием специализированного программного обеспечения, также входящего в систему IPS с измерением требуемых параметров тепловизоров и модулей тепловизорных камер VIS-SWIR диапазона. Источником света модуля SITO является сложное многомодовое устройство. Все функции источника света SITO контролируются из программы управления, установленной на ПК, позволяющей осуществлять: питание инфракрасной галогенной лампы, управление аттенюатором, управление монохроматором, управление слайдером фильтра и считывание данных от двух измерителей освещенности. Следует отметить, что на международном рынке существует довольно много источников света с переменной длиной волны. Однако также имеется очень мало калиброванных источников света с точно регулируемой длиной волны и интенсивностью света. Поэтому истоник света SITO в сочетании с системой IPS позволяет сформировать уникальную систему тестирования SIT.
Характеристики стандартных версий
|
Параметры |
Значение |
|
Источник света SITO |
|
|
Тип источника |
монохроматический источник света с изменяемой длиной волны и интенсивностью света |
|
Спектральная частота с регулируемой длиной волны |
от 400 нм до 2200 нм |
|
Апертура световой пластины |
не более 24 мм (для режима низкой интенсивности); не более 6 мм ( для режима высокой интенсивности) |
|
Неравномерность (пространственная неопределенность) |
1% (в режиме низкой интенсивности в центральной части диаметром 20 мм) |
|
Разрешение регулировки длины волны |
не хуже чем 1 нм |
|
Тип регулировки длины волны |
непрерывное с использованием ПО установленного на ПК |
|
Ширина спектральной полосы монохроматора |
ручное регулирование |
|
Рекомендуемая ширина спектральной полосы |
не более 20 нм |
|
Калибровка интенсивности света, [мкВт/см2] |
1. Освещение пластины датчика 2. Имитация выходной пластины мишени для оптики схемы |
|
Максимальный уровень освещенности в плоскости датчика (при полосе 30 нм на любой длине волны в диапазоне от 600 до 2200 нм) |
не более 0,1 [мкВт/см2] (для режима низкой интенсивности); не более 0,5 [мкВт/см2] (для режима высокой интенсивности); |
|
Минимальный смоделированный уровень освещенности на пластине датчика |
не более 10 [пВт/см2] |
|
Динамический диапазон регулирования интенсивности света |
не менее 10000 раз (опционально может быть расширено) |
|
Тип регулирования интенсивности света |
непрерывное с использованием ПО установленного на ПК |
|
Стабильность интенсивности света |
не хуже 1,5% |
|
Система IPS |
|
|
Допустимые форматы цифровых изображений тестируемого датчика |
CameraLink, GigE, HDSDI, HDMI (опционально может быть расширен) |
|
Измеряемые параметры |
параметр "D*" (нормализованную детектируемость), чувствительность, эквивалентный излучению шум, пространственный шум, относительная спектральная чувствительность, линейность |
|
Общие параметры |
|
|
Рабочий диапазон температур |
+ 5°С до + 35°С |
|
Температура хранения |
- 5°С до + 55°С |
|
Влажность |
не более 90% (без конденсирования влаги) |
|
Масса |
58 кг |
|
Габаритные размеры |
1730 х 430 х 280 мм |
