Системы для тестирования электронно-оптических преобразователей (ЭОП)

Позволяет проводить следующие тесты:

• измерение разрешения ЭОПов;
• полуавтоматическое измерение частотно-контрастной характеристики (MTF);
• измерение соотношения сигнал/шум (SNR);
• полезный диаметр катода;
• точечные дефекты (темные и светлые пятна);
• грубые искажения;
• неравномерность яркости;
• наличие ореола;
• выравнивание изображения;
• инверсия изображения;
• увеличение, временное увеличение;
• потребляемая мощность ЭОПа;
• максимальный диаметр фотокатода равен 25 мм;
• тестирование ЭОПов II, III и IV поколения.

Позволяет проводить следующие тесты:

• коэффициент передачи яркости;
• освещённость, эквивалентная фону (EBI);
• стабильность работы;
• время нарастания;
• время затухания;
• время послесвечения;
• светочувствительность фотокатода;
• потребляемая мощность ЭОПа;
• тестирование ЭОПов в спектральном диапазоне от 400 нм до 1200 нм;
• максимальный диаметр фотокатода равен 40 мм; измерительная система компьютеризована;
• указанные выше тесты проводятся в полуавтоматическом режиме;
• современный компактный дизайн, выполненный в едином корпусе;
• тестирование ЭОП II, III и IV поколения.

Позволяет проводить следующие тесты:

• тестирование в соответствии с рекомендациями военных стандартов MIL;
• стандартный тест надёжности;
• ускоренный тест надёжности;
• тест на прожигание;
• устойчивость к точечному прожиганию.
• возможность изменения стандартных условии проведения испытаний;
• полностью автоматизированная система; проведение тестирования в лабораторных условиях;
• возможность проведения тестирования на производственной линии;
• поддержка тестирования ЭОПов II, III и IV поколения;
• управление всеми параметрами работы с использованием ПК;
• задача пользователем собственного алгоритма проведения испытаний;
• запись всех результатов для последующего их анализа;
• поставка системы с набором для проведения работ по перекалибровки системы.

Позволяет проводить следующие тесты:

• измерение разрешения ЭОПа;
• частотно-контрастная характеристика;
• отношение шум/сигнал;
• ореол;
• полезный диаметр катода;
• наличие темных и светлых точек (дефекты);
• пространственная неоднородность выходной яркости;
• оба типа пространственных шумов (multi-multi и multi-boundary);
• инверсия изображения;
• увеличение;
• усиление яркости;
• уровень насыщения;
• измерение освещения эквивалентного фоновому;
• измерение чувствительности фотокатода к свету.

Позволяет проводить следующие тесты:

• тестирование в соответствии военными стандартами MIL;
• измерение усиления яркости; измерение усиления радианта эмиттанса;
• измерение освещения эквивалентного фону (EBI);
• измерение уровня насыщения;
• чувствительность фотокатода к световому потоку;
• чувствительность радианта;
• стабильность работы;
• время нарастания;
• время задержки в свечении люминофора;
• время затухания люминофора;
• наличие специального ПО для расчета результатов;
• тестирование ЭОПов в спектральном диапазоне от 400 нм до 1200 нм;
• тестирование ЭОП II, III и IV поколения.

Позволяет проводить следующие тесты:

• разрешение ЭОП: (в центре поля, на периферии, при высоком уровне сигнала);
• частотно-контрастная характеристика (MTF);
• отношение сигнал-шум (S/N) ореол;
• полезный диаметр катода;
• точечные дефекты (темные и светлые пятна);
• пространственная неравномерность выходной яркости;
• выравнивание изображения;
• грубые искажения;
• оба типа пространственных шумов (multi-multi и multi-boundary);
• эффективность фотокатода (коэффициент усиления яркости);
• освещённость, эквивалентная фону (EBI); ч
• увствительность фотокатода;
• потребляемая мощность ЭОП.

Позволяет проводить следующие тесты:

• тестирование источников питания ЭОПов;
• тестирование источников питания экранов ЭОПа;
• тестирование источников питания на входе платы управления ЭОПа;
• тестирование источников питания на выходе платы управления ЭОПа;
• тестирование производительности источников питания; тестирование надежности источников питания;
• измерение электрических параметров (напряжения, тока, мощности);
• измерение отклика на изменение яркости на экране ЭОПа;
• проведение измерения при статическом уровне освещенности;
• проведения измерения при динамическом уровне освещенности;
• наличие 4-х каналов системы контроля напряжения и тока;
• наличие встроенной защиты от короткого замыкания;
• защита потребителя от переполюсовки; управление параметрами работы системы с персонального компьютера.

Позволяет проводить следующие тесты:

• универсальная система для тестирования стрик ЭОПов;
• интегральная чувствительность фотокатода к свету;
• интегральная чувствительность фотокатода к излучению;
• параметр EBI (эквивалентная освещенность фона);
• коэффициент усиления мощности излучения;
• коэффициент усиления яркости;
• динамический диапазон;
• пространственное разрешение;
• ЧКХ (частотно контрастная характеристика);
• увеличение;
• искажение;
• время задержки свечения люминофора;
• временное разрешение (опционально);
• полностью компьютеризированная система.