Сообщаем о выходе обновленной более производительной системы тестирования ЭОПов - ITIP

Обновленная система тестирования ЭОПов является продолжением ранее выпускаемой системы тестирования ITS-IP, позволяющей быстро и точно определять параметры генерируемого ЭОПом изображения, фотометрические и временные параметры. Эти предлагаемые тест системы так-же включают в себя возможности системы тестирования ITS-I по определению оптических параметров (качества изображений) и возможности системы тестирования ITS-P по определению фотометрических и временных параметров тестируемых ЭОПов. Дополнительно система тестирования ITIP позволяет определять электрические параметры тестируемых ЭОПов.

В зависимости от требуемых параметров тестирования системы выпускаются в нескольких модификациях, отличающихся комплектацией и возможностями по определению паарметров ЭОПов.

Для более подробной информации о предлагаемой тест системе ITIP Вам необходимо перейти на web-страницу каталога, посвященную ей.