Системы SOL для тестирования сенсоров VIS/SWIR тепловизоров и модулей камер

Особенности:

система SOL разработана для проведения работ по тестированию сенсоров тепловизоров, работающих в спектральном диапазоне VIS (видимого) и SWIR (коротковолнового инфракрасного) включающих в себя кремний / черный кремний / InGaAs чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2500 нм).

Связаться по телефонам +7 (495) 960-28-32 +7 (499) 750-96-75
Заказать оборудование

Общая информация

Система SOL разработана для проведения работ по тестированию сенсоров тепловизоров, работающих в спектральном диапазоне VIS (видимого) и SWIR (коротковолнового инфракрасного) включающих в себя кремний / черный кремний / InGaAs чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2500 нм). Конструктивно система SOL состоит из: 1) откалиброванного источника света имеющим ступенчатую регулировку спектральной полосы и непрерывным регулированием интенсивности света, который облучает сенсор тестируемого тепловизора; 2) системы по обработке изображений, позволяющее проводить анализ сгенерируемого тестируемым сенсором тепловизора (матрицой камеры) с последующей обработкой. Шаг фильтрации спектра выполняется с использованием набора узкополосных фильтров. Источник света может генерировать световой поток с до 16-ю спектральных полос, которые расположены в диапазоне VIS-SWIR спектра (от 400 до 2500 нм или опционально в более узкой полосе). Использование системы SOL позволяет измерять ряд радиометрических, фотометрических и спектральных параметров. К радиометрическим параметрам, измеряемым системой, относятся: эквивалентный излучению шум, функции ответа (чувствительность, линейность, динамический диапазон), D* (нормализованная детектируемость), квантовая эффективность, пространственный шум. К фотометрическим параметрам, измеряемым системой, относяться: эквивалентный освещенности шум, функции ответа. Радиометрические параметры могут быть измерены в любой из узких полос света, излучаемых источником света системы тестирования SOL. Именно поэтому система тестирования SOL может быть использована также для измерения спектральной чувствительности тестируемого сенсора тепловизора и матрицы тепловизорной камеры. Считается, что при тестировании матриц тепловизорных камер, они должны быть использованы вместе с управляющей электроникой (поставляется либо заказчиком, либо третьими лицами), на выходе которых генерируется изображения в стандартных цифровых форматах, таких как CameraLink, GigE, HD SDI и т. д. Поэтому система тестирования SOL позволяет проводить непосредственное тестирование чувствительности матрицы тепловизорных камер в спектральных диапазонах VIS и SWIR.

Описание работы

Конструктивно система тестирования SOL состоит из двух основных блоков:

  1. калиброванного источника света, со ступенчатой регулировкой длины волны и непрерывно регулируемой интенсивностью света, обозначаемый SOLO;
  2. системы по обработке изображений, которая состоит из: персонального компьютера, карты захвата изображений, специализированного программного обеспечения, называемой PCFS.

Тестируемый сенсор тепловизора располагается на выходе источника света SOLO, называемый световой пластиной. Тестируемый датчик равномерно облучается светом с требуемой длиной волны и интенсивностью света. освещенностью. На выходе тестируемого тепловизора или матрицы формируется изображения в одном из цифровых стандартов, которые поступают на карту захвата изображения и отображаюся на ПК входящих в систему PCFS. В дальнейшем эти изображения могут быть проанализированы пользователем с использованием специализированного программного обеспечения, также входящего в систему PCFS с измерением требуемых параметров тепловизоров и модулей тепловизорных камер VIS-SWIR диапазона.

Технические параметры

Параметры

Значение

Источник света SOLO

Используемый источник света

калиброванный источник света с пошаговой регулировкой частоты спектра и непрерывной регулировкой интенсивностью света

Тип источника

источник света с изменяемой длиной волны и интенсивностью света

Апертура световой пластины

не более 24 мм

Неравномерность (пространственная неопределенность)

2% (в центральной части диаметром 20 мм)

Режимы работы

1 - широкополосный режим;

2 - монохроматический режим.

Калибровка интенсивности света

освещенность сенсора (лк) или

облучение сенсора (мкВт/см2)

Тип регулирования интенсивности света

непрерывное с использованием ПО установленного на ПК

Стабильность интенсивности света

не хуже 1,5%

Работа источника света в широкополосном режиме

Спектральная частота с регулируемой длиной волны

от 400 нм до 2500 нм

Спектр света

приблизительно излучение с температурой света 2850К

Максимальная освещенность

не менее 10000 лк

Динамический диапазон регулирования интенсивности света

не менее 100000 раз (опционально может быть расширено)

Работа источника света в монохроматическом режиме

Спектральная частота с регулируемой длиной волны

от 400 нм до 2500 нм

Количество спектральных частот света

до 16 (на всем диапазоне спектра от 400 до 2500 нм)

Центральная длина волны на узкой частоте

в диапазоне от 400 до 2500 нм и зависит от требований заказчика

Ширина монохроматический спектральной частоты

обычно от 10 до 20 нм и зависит от требований заказчика

Максимальный уровень освещенности в плоскости датчика (при длине волны в диапазоне от 450 до 2000 нм)

зависит от длины волны и требуемой ширины используемых фильтров.

Например, не менее 70 мкВт/см2 для ширины фильтра 10 нм и длины волны 1000 нм

Регулировка используемой длины волны (в узкой спектральной частоте)

По шаговое регулирование с использованием ПО установленного на ПК

Система PCFS

Допустимые форматы цифровых изображений тестируемого датчика

CameraLink, GigE, HDSDI, HDMI (опционально может быть расширен)

Измеряемые параметры

Работа в широкополосном режиме:

эквивалентный освещенности шум, функции ответа (чувствительность, линейность, динамический диапазон);

Работа в монохроматическом режиме:

эквивалентный излучению шум, функции ответа (чувствительность, линейность, динамический диапазон), D* (нормализованная детектируемость), квантовая эффективность, пространственный шум, относительная спектральная чувствительность

Общие параметры

Рабочий диапазон температур

+ 5°С до + 35°С

Температура хранения

- 5°С до + 55°С

Влажность

не более 90% (без конденсирования влаги)

Масса

29,2 кг

Габаритные размеры

1190 х 400 х 240 мм

Преимущества системы

Система тестирования SOL является идеальным инструментом для проведения работ по тестированию сенсоров тепловизоров и матриц тепловизорных камер, работающих в диапазонах VIS (видимых) и SWIR (коротковолновых инфракрасных) и основанных на элементах из кремния / черного кремния / сенсоров InGaAs и чувствительных в спектральной полосе от 400 до 2500 нм. Предлагаемая система тестирования относится к системам профессионального класс. Имеем компактную конструкцию, удобную и понятную в управлении для её пользователя-оператора. Система оптимизирована для проведения высокоскоростного тестирования с использованием специализированного программного обеспечения, в отличие от обычных систем тестирования, выполненных в виде отдельно стоящего набора оборудования с использованием при тестировании специальных оптических таблиц, которые снижают скорость тестирования и удобство от её использования.

Обсуждение товара

Выбрать файл