Системы SIT для тестирования сенсоров VIS/SWIR тепловизоров и модулей камер

Особенности:

использование системы SIT позволяет измерять радиометрические и спектральные параметры тепловизоров диапазона VIS-SWIR (сенсоры которых изготовлены из: кремния, черного кремния, InGaAs) и чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2200 нм.

Связаться по телефонам +7 (495) 960-28-32 +7 (499) 750-96-75
Заказать оборудование

Общая информация

Система тестирования SIT разработана для тестирования чувствительных сенсоров тепловизоров (или матриц тепловизорных камер), работающие в спектральном диапазоне VIS-SWIR (видимом и коротковолновом инфранрасном). Использование системы SIT позволяет измерять радиометрические и спектральные параметры тепловизоров диапазона VIS-SWIR (сенсоры которых изготовлены из: кремния, черного кремния, InGaAs) и чувствительных в полосе спектра от 400 нм до 2200 нм. Используя систему SIT можно измерить следующие параметры тепловизоров: относительную спектральную чувствительность, чувствительность, эквивалентный излучению шум, параметр "D*" (нормализованную детектируемость) и пространственный шум. Система тестирования SIT является более простой версией системы VIT с меньшим количеством измеряемых параметров. Достоинством системы SIT является возможность непрерывного регулирования длины волны. Для тестирования датчика теплового изображения - матрицы тепловизорной камеры необходимо, чтобы он был интегрирован с блоком электроники, поставляемый заказчиком или иным лицом, и которая позволяет генерировать выходное изображение в цифровом формате, таком как Camera Link, GigE, HD SDI и т.д. Поэтому считается, что система SIT позволяет тестировать не только тепловизоры в сборе, но а также модули тепловизорной камеры, чувствительные к спектральным диапазонам VIS-SWIR.

Описание работы

Конструктивно система тестирования SIT состоит из двух основных блоков:

  1. калиброванного источника света, непрерывно регулируемой длиной волны и интенсивностью света, обозначаемоая SITO;
  2. системы по обработке изображений, состоящей из: ПК, карты захвата изображений и специализированного программного обеспечения, называемой системой IPS.

Тестируемое устройстово изображения (тепловизор или модуль) располагается на выходе источника света SITO, называемой также световой пластиной. Тестируемый датчик равномерно облучается светом с требуемой длиной волны и освещенностью. на выходе тестируемого тепловизора или матрицы формируется изображения в одном из цифровых стандартов, которые поступают на карту захвата изображения и отображаюся на ПК входящих в систему IPS. В дальнейшем эти изображения могут быть проанализированы пользователем с использованием специализированного программного обеспечения, также входящего в систему IPS с измерением требуемых параметров тепловизоров и модулей тепловизорных камер VIS-SWIR диапазона. Источником света модуля SITO является сложное многомодовое устройство. Все функции источника света SITO контролируются из программы управления, установленной на ПК, позволяющей осуществлять: питание инфракрасной галогенной лампы, управление аттенюатором, управление монохроматором, управление слайдером фильтра и считывание данных от двух измерителей освещенности. Следует отметить, что на международном рынке существует довольно много источников света с переменной длиной волны. Однако также имеется очень мало калиброванных источников света с точно регулируемой длиной волны и интенсивностью света. Поэтому истоник света SITO в сочетании с системой IPS позволяет сформировать уникальную систему тестирования SIT.

Характеристики стандартных версий

Параметры

Значение

Источник света SITO

Тип источника

монохроматический источник света с изменяемой длиной волны и интенсивностью света

Спектральная частота с регулируемой длиной волны

от 400 нм до 2200 нм

Апертура световой пластины

не более 24 мм (для режима низкой интенсивности);

не более 6 мм ( для режима высокой интенсивности)

Неравномерность (пространственная неопределенность)

1% (в режиме низкой интенсивности в центральной части диаметром 20 мм)

Разрешение регулировки длины волны

не хуже чем 1 нм

Тип регулировки длины волны

непрерывное с использованием ПО установленного на ПК

Ширина спектральной полосы монохроматора

ручное регулирование
5/10/20/30 нм

Рекомендуемая ширина спектральной полосы

не более 20 нм

Калибровка интенсивности света, [мкВт/см2]

1. Освещение пластины датчика

2. Имитация выходной пластины мишени для оптики схемы

Максимальный уровень освещенности в плоскости датчика (при полосе 30 нм на любой длине волны в диапазоне от 600 до 2200 нм)

не более 0,1 [мкВт/см2] (для режима низкой интенсивности);

не более 0,5 [мкВт/см2] (для режима высокой интенсивности);

Минимальный смоделированный уровень освещенности на пластине датчика

не более 10 [пВт/см2]

Динамический диапазон регулирования интенсивности света

не менее 10000 раз (опционально может быть расширено)

Тип регулирования интенсивности света

непрерывное с использованием ПО установленного на ПК

Стабильность интенсивности света

не хуже 1,5%

Система IPS

Допустимые форматы цифровых изображений тестируемого датчика

CameraLink, GigE, HDSDI, HDMI (опционально может быть расширен)

Измеряемые параметры

параметр "D*" (нормализованную детектируемость), чувствительность, эквивалентный излучению шум, пространственный шум, относительная спектральная чувствительность, линейность

Общие параметры

Рабочий диапазон температур

+ 5°С до + 35°С

Температура хранения

- 5°С до + 55°С

Влажность

не более 90% (без конденсирования влаги)

Масса

58 кг

Габаритные размеры

1730 х 430 х 280 мм

Обсуждение товара

Выбрать файл