Стационарные системы LIP для тестирования лазерных указок и лазерных подсветок
Возможности тестирования при использовании системы:
- оценка эффективности лазерной указки или лазерной подсветки;
- измерение силы импульса;
- измерение угла расхождения импульса;
- определение равномерности освещенности;
- компактная конструкция системы;
- использование в лаборатории, в складских или в "полевых" условиях;
- оптимизация для тестирования практически всех лазерных указок / подсветок.
Основная информация
Лазерные системы в настоящее время нашли широкое применение в различных сферах жизни человека, лазерные указатели для концентрации внимания собеседников на удаленных объектах или для подсветки зоны наблюдение для телекамер (в качестве лазерных подсветок).
Лазерные указатели и лазерные подсветки являются простыми устройствами, но они могут оказывать решающее значение во многих сферах нашей жизни (оборонная промышленность, безопасность, поиск и спасение, атомной промышленность и т.д.).
Оба устройства характеризуются двумя важнейшими параметрами: мощностью и уголом расхождения. Оба этих параметра, из-за множества различных причин, часто отличаются от значений, представленных в техническом описании. В то же время производительность лазерных осветителей зависит не только от мощности пучка и его расходимости, но и от однородности пучка. В связи с этим проводить тестирование лазерных указателей и лазерных подсветок важно как для производителей, так и конечных пользователей.
Установка LIP для тестирования лазерных указателей и осветителей оптимизирована для тестирования лазерных указателей и лазерных подсветок. LIP станция построена из двух основных блоков: BIS системы формирования луча и COP измерителя мощности. BIS - это высоко технологичная система, которая динамически адаптируется к различному уровню мощности лазерных указателей / подсветок (динамические более 100 000), и к интенсивности света создаваемой у тестируемых лазерных систем. Второй блок облегчает измерение мощности практически всех лазерных указателей и лазерных подсветок присутствующих на рынке.
Тест система LIP принадлежит к семейству систем LT, разработанных для тестирования лазерных систем.
Основные параметры
|
Спектральный диапазон |
400-1060 нм |
|
Рабочее отверстие |
24 мм |
|
Диапазон измеряемой мощности |
0,001мВт – 3Вт |
|
Разрешение измеряемой мощности |
0,001мВт |
|
Нелинейность |
<1% |
|
Диапазон рабочих температур |
от +10ºC до +35ºC |
|
Диапазон температур хранения |
от -5ºC до +50ºC |
|
Размеры |
Измеритель: 220x150x50 мм; Зонд: 60x50x70 |
Основные параметры BIS системы визуализации
|
Чувствительность спектрального диапазона |
400-1000 нм |
|
Отверстие |
46мм |
|
Оптимизация |
оптимизированы для тестирования лазеров мощности в диапазоне 0,1 мВт – 3Вт и угол расхождения в диапазоне от 0.25мрад к 200мрад |
|
Динамика |
>106 |
|
Разрешение камеры № 1 |
640x640 |
|
Поле зрения камеры № 1 |
14 мрад |
|
Разрешение камеры № 2 |
640x640 |
|
Поле зрения камеры № 2 |
200 мрад |
|
Диапазон рабочих температур |
от +10°C до +35°C |
|
Диапазон температур хранения |
от -5°C до +50°C |
|
Размеры |
360x100x200 мм |
