Системы для тестирования электронно-оптических преобразователей (ЭОП)

Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • измерение разрешения ЭОПов;
  • полуавтоматическое измерение частотно-контрастной характеристики (MTF);
  • измерение соотношения сигнал/шум (SNR);
  • полезный диаметр катода;
  • точечные дефекты (темные и светлые пятна);
  • грубые искажения;
  • неравномерность яркости;
  • наличие ореола;
  • выравнивание изображения;
  • инверсия изображения;
  • увеличение, временное увеличение;
  • потребляемая мощность ЭОПа;
  • максимальный диаметр фотокатода равен 25 мм;
  • тестирование ЭОПов II, III и IV поколения.
Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • коэффициент передачи яркости;
  • освещённость, эквивалентная фону (EBI);
  • стабильность работы;
  • время нарастания;
  • время затухания;
  • время послесвечения;
  • светочувствительность фотокатода;
  • потребляемая мощность ЭОПа;
  • тестирование ЭОПов в спектральном диапазоне от 400 нм до 1200 нм;
  • максимальный диаметр фотокатода равен 40 мм; измерительная система компьютеризована;
  • указанные выше тесты проводятся в полуавтоматическом режиме;
  • современный компактный дизайн, выполненный в едином корпусе;
  • тестирование ЭОП II, III и IV поколения.
Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • тестирование в соответствии с рекомендациями военных стандартов MIL;
  • стандартный тест надёжности;
  • ускоренный тест надёжности;
  • тест на прожигание;
  • устойчивость к точечному прожиганию.
  • возможность изменения стандартных условии проведения испытаний;
  • полностью автоматизированная система; проведение тестирования в лабораторных условиях;
  • возможность проведения тестирования на производственной линии;
  • поддержка тестирования ЭОПов II, III и IV поколения;
  • управление всеми параметрами работы с использованием ПК;
  • задача пользователем собственного алгоритма проведения испытаний;
  • запись всех результатов для последующего их анализа;
  • поставка системы с набором для проведения работ по перекалибровки системы.
Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • измерение разрешения ЭОПа;
  • частотно-контрастная характеристика;
  • отношение шум/сигнал;
  • ореол;
  • полезный диаметр катода;
  • наличие темных и светлых точек (дефекты);
  • пространственная неоднородность выходной яркости;
  • оба типа пространственных шумов (multi-multi и multi-boundary);
  • инверсия изображения;
  • увеличение;
  • усиление яркости;
  • уровень насыщения;
  • измерение освещения эквивалентного фоновому;
  • измерение чувствительности фотокатода к свету.
Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • тестирование в соответствии военными стандартами MIL;
  • измерение усиления яркости; измерение усиления радианта эмиттанса;
  • измерение освещения эквивалентного фону (EBI);
  • измерение уровня насыщения;
  • чувствительность фотокатода к световому потоку;
  • чувствительность радианта;
  • стабильность работы;
  • время нарастания;
  • время задержки в свечении люминофора;
  • время затухания люминофора;
  • наличие специального ПО для расчета результатов;
  • тестирование ЭОПов в спектральном диапазоне от 400 нм до 1200 нм;
  • тестирование ЭОП II, III и IV поколения.
Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • разрешение ЭОП: (в центре поля, на периферии, при высоком уровне сигнала);
  • частотно-контрастная характеристика (MTF);
  • отношение сигнал-шум (S/N) ореол;
  • полезный диаметр катода;
  • точечные дефекты (темные и светлые пятна);
  • пространственная неравномерность выходной яркости;
  • выравнивание изображения;
  • грубые искажения;
  • оба типа пространственных шумов (multi-multi и multi-boundary);
  • эффективность фотокатода (коэффициент усиления яркости);
  • освещённость, эквивалентная фону (EBI); ч
  • увствительность фотокатода;
  • потребляемая мощность ЭОП.
Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • тестирование источников питания ЭОПов;
  • тестирование источников питания экранов ЭОПа;
  • тестирование источников питания на входе платы управления ЭОПа;
  • тестирование источников питания на выходе платы управления ЭОПа;
  • тестирование производительности источников питания; тестирование надежности источников питания;
  • измерение электрических параметров (напряжения, тока, мощности);
  • измерение отклика на изменение яркости на экране ЭОПа;
  • проведение измерения при статическом уровне освещенности;
  • проведения измерения при динамическом уровне освещенности;
  • наличие 4-х каналов системы контроля напряжения и тока;
  • наличие встроенной защиты от короткого замыкания;
  • защита потребителя от переполюсовки; управление параметрами работы системы с персонального компьютера.
Развернуть Свернуть

Позволяет проводить следующие тесты:

  • универсальная система для тестирования стрик ЭОПов;
  • интегральная чувствительность фотокатода к свету;
  • интегральная чувствительность фотокатода к излучению;
  • параметр EBI (эквивалентная освещенность фона);
  • коэффициент усиления мощности излучения;
  • коэффициент усиления яркости;
  • динамический диапазон;
  • пространственное разрешение;
  • ЧКХ (частотно контрастная характеристика);
  • увеличение;
  • искажение;
  • время задержки свечения люминофора;
  • временное разрешение (опционально);
  • полностью компьютеризированная система.